產(chǎn)品信息
熱測(cè)試系統(tǒng)
詳細(xì)信息
當(dāng)前電子產(chǎn)品的主要失效形式之一是熱失效(電子設(shè)備的失效有55%是溫度超過規(guī)定值引起的)。
我公司擁有一流的電子產(chǎn)品熱分析診斷的硬件設(shè)施,為企業(yè)全面提供熱分析解決方案、提升企業(yè)熱設(shè)計(jì)水平、優(yōu)化產(chǎn)品品質(zhì),促進(jìn)電子產(chǎn)品的更新?lián)Q代,推動(dòng)散熱技術(shù)的傳播,帶領(lǐng)整個(gè)電子產(chǎn)品熱設(shè)計(jì)行業(yè)跨入新領(lǐng)域。
電子產(chǎn)品表面灰度測(cè)量
Ø 主要技術(shù)指標(biāo):
傳感器:Pt100
控溫測(cè)溫精度:±0.10C
黑體空腔有效發(fā)射率:≥0.999
灰度測(cè)量精度:±1%
電子產(chǎn)品分布式溫度測(cè)試
Ø 主要功能:
測(cè)試組件各個(gè)位置的溫度值,并具有圖表顯示功能。
Ø 主要技術(shù)指標(biāo):
測(cè)溫點(diǎn)數(shù):16(可擴(kuò)展至64)
溫度精度:±0.30C
SH261型環(huán)境試驗(yàn)箱溫度范圍:-60~+1500C±30C
溫度上升時(shí)間:70分鐘之內(nèi)從-600C上升到+1500C
溫度下降時(shí)間:70分鐘之內(nèi)從+200C下降到-600C